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1篇 您的检索式：作者名="K.H.Fischer"

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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	用康扫描(ComScan)系统对低原子序数材料进行康普顿背散射层析X射线照相显示文摘近来一种基于检测康普顿背散射辐射的新的简单的背散射成象系统问世。它优于现行的穿透系统:具有实时三维成象能力,即使对低原子序数材料仍有高衬度与背散射成象几何结构。结果表明,该系统可能用于现代产品中日益重要的轻合金、层压件与塑料的检测。	J.Kosanetzky G.Harding K.H.Fischer A.Meyer 孔凡庚	1994	无损检测1994，16，9：	4

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