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时间 1989 - 2010 学科选择学科
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10篇 您的检索式：作者名="BAFLEUR M"
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1Low frequency noise measurements for ESD latent defect detection in high reliability applications显示文摘Guitard N Tremouilles D Bafleur M 2004Microelectronics Reliability2004，44，6：1
2CMOS Current Conveyor 显示文摘 Siskos S Bafleur M 1992IEE Electronics Letters1992，28，24：1
3Application of a CMOS Current Mode Approach to On-Chip Current Sens-ing in Smart Power Circuits显示文摘GIVELIN PH BAFLEUR M TOUMIER E 1995IEEE Proceedings of Circuits Devices and System1995，142，6：1
4Low frequency noise measurements for ESD latent defect detection in high reliability applications显示文摘 Tremouilles D Bafleur M 2004Microelectronics Reliability2004，44，6：1
5Low frequency noise measurements for ESD latent defect detection in high reliability applications 显示文摘Guitard N Tremouilles D Bafleur M etc 2004Microelectronics Reliability2004，44，：1
6TCAD and SPICE modeling help solve ESD protection issues in analog CMOS technology显示文摘Tremouilles D Bertrand G Bafleur M 2003Microelectronics Re- liability2003，43，1：1
7Combined MOS-IGBT-SCR structure for a compact high-robustness ESD power clamp in smart power SOl technology显示文摘ARBESS H BAFLEUR M TREMOUILLES D 2014IEEE Transactions on Device and Materials Reliability2014，14，1：1
8CMOS Current Conveyor 显示文摘Lopuulos T Siskos S Bafleur M 1992IEE Electrnics Letters1992，28，24：1
9Application of a CMOS current mode approach to on-chip current sensing in smart power circuits显示文摘Givelin Ph Bafleur M Tournier E 1995Proc Inst Electr Eng: Cir- cuits Devices Systems1995，142，：1
10Low frequency noise measurements for ESD latent defect detection in high reliability applications显示文摘GUITARD N TREMOUILLES D BAFLEUR M 2004Microelectronics Reliability2004，44，6：1
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