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263篇 您的检索式：期刊名="IEEE Circuits Device"

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	题名	作者	年代	出处	被引量
1	Phase-locked laser arrays显示文摘	Botez D Mawst L J	1996	IEEE Circuits and Devices1996，12，11：	2
2	Adhesive joint design for high yield and low cost assembly of fiberoptic devices 显示文摘	Lin Yaomin Liu Wenning Shi F G	1992	IEEE Circuits and Devices Magazine1992，8，6：	2
3	Excimer-laser ablation and etching 显示文摘	BRANNON J H	1990	IEEE Circuits & Devices1990，6，：	1
4	Active MOSFET-C SINGLE Amplifier Biquadratic for Video Frequencies 显示文摘	SCHMID H P MOSCHYTZ G S	2000	IEEE Proc Circuits Devices Syst2000，147，2：	1
5	Solid-state lighting: lamps, chips, and mater- ials for tomorrow显示文摘	TSAO J Y	2004	IEEE Circuit Device Mag2004，20，3：	1
6	Cmos image sensors显示文摘	ABBAS E G HELMY E	2005	IEEE Circuits & Devices Magazine2005，，56：	1
7	Remodeling the p-n junction 显示文摘	Damljanovic D D	1993	IEEE Circuits & Devices1993，9，6：	1
8	Semi-numerical static model for nonplaner-drift lateral DMOS transistor显示文摘	Chung Y	1999	IEEE Proc Circuit Devices Syst1999，146，3：	1
9	MEMS: micro technology显示文摘	Nagel D J	2001	IEEE Circuits & Device2001，17，2：	1
10	Staying current with HICUM 显示文摘	SCHROTER M	2002	IEEE Circuits and Devices Magazine2002，18，3：	1
11	Excimer-laser ablation and etching 显示文摘	Brannon J H	1990	IEEE Circuits and Devices Magazine1990，6，5：	1
12	Finite element modelling of thermal fatigue effects in IGBTmodules 显示文摘	SHAMMAS N Y A RODRIGUEZ M P PLUMPTON A T	2001	IEEE Proceedings on Circuits Devices and Sys-tems2001，148，2：	1
13	CMOS Image Sensors 显示文摘	Abbas El Gamal	2005	IEEE Circuits&Devices Magazine2005，，：	1
14	Improved detection of the invisible 显示文摘	Carrano J C Li T Grudowski P A	1999	IEEE Circuits and Devices Magazine1999，15，5：	1
15	Simulated annealing algorithms: an over-view显示文摘	RUTENBAR R A	1989	IEEE Circuit and Devices Magazine1989，1，：	1
16	A single photon counter for long-haul telecom 显示文摘	BOURENNANE M RIBORDY G	1999	IEEE Circuits Devices Mag1999，15，6：	1
17	Availability modeling显示文摘		1994	IEEE Circuits and Devices Magazine1994，，：	1
18	The end of CMOS scaling 显示文摘	SKOTNICKI T HUTCHBY J A KING T J	2005	IEEE Circuits and Devices2005，21，1：	1
19	Parallel architecture modified Booth multiplier 显示文摘	Cooper A R	1988	Circuits Devices and Systems IEEE Proceedings G1988，135，3：	1
20	Testability and test compaction for design diagram circuits显示文摘	BYSTROV A ALMAINI A E A	1999	IEEE Proc Circuits Devices Syst1999，146，4：	1

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